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Neueste Generation der Rastelektronenmikroskopie
Das WITG ist mit der Anschaffung des REM Sigma 300 VP / ZEISS in die neueste Generation der Rasterelektronenmikroskopie gestartet. Diese bedeutende Neuausstattung ermöglicht es uns, das Leistungsspektrum für Untersuchungen erheblich zu erweitern und unseren Kunden noch präzisere und detailliertere Analysen zu bieten.
Nachfolgend möchten wir Ihnen die neuen Möglichkeiten kurz vorstellen:
- So ist der Schottky Feldemitter als Quelle für die Elektronenerzeugung in Kombination mit der Gemini 1-Optik für hohe Vergrösserungen auch bei niedrigen Beschleunigungsspannungen für sensible Proben geeignet. Dies ermöglicht auch die Abbildung von elektrisch nicht leitenden Objekten ohne vorherige Anpassung der Probe.
- Der in die Säule integrierte und für die Hochauflösung konzipierte Inlens-Detektor liefert dabei gestochen scharfe Bilder. Elektrisch schlecht leitende Objekte können auch unter reduziertem Vakuum dargestellt werden. Somit können die Untersuchungsbedingungen optimal auf die zu untersuchenden Objekte und die dahinter stehenden Fragestellungen ausgerichtet werden.
- Die hohe und konstante Elektronenausbeute der Feldemissionskathode liefert in Kombination mit dem EDX-Detektor vom Typ XFlash 6|60 / Bruker ideale Bedingungen für schnelle und präzise Elementanalysen, Linescans und Mappings für die erweiterte Probencharakterisierung.
Für die Bewertung und Interpretation der mit diesen Möglichkeiten erzeugten Resultate stehen Ihnen insgesamt drei WITG-Ansprechpartner mit umfassender Expertise zur Seite:
Torsten Bogatzky
0041 71 666 42 04
Daniel Hermann
0041 71 666 42 08
Matthias Sorg
0041 71 666 42 07
Hier gibt es noch mehr Informationen:
Factsheet Rasterlektronenmikroskopie (REM)
Factsheet Energiedispersive Röntgenanalyse (EDX)
Übersicht der generellen Ausstattung und Arbeitsmethoden am WITG
Bildunterschrift v.l.n.r.: Torsten Bogatzky, Alex Eckhard und Jörg Straub
Bildquelle: WITG